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超快時間分辨葫芦娃污APP測試係統

  • 產品型號:
  • 產品時間:2023-12-26
  • 簡要描述:一套用於皮秒時間分辨的超快熒光測試係統解決方案,為您提供ps-ns-us 量級的超快熒光壽命或超快等離子體衍化過程的快速測量。
  • 產品介紹

係統主要功能指標:

  • 寬葫芦娃污APP測量範圍:UV-VIS-NIR, 200-900nm;

  • 高係統時間分辨率: <=5ps

  • 壽命衰減測量時間範圍:<=50ps—100us 

  • 高係統葫芦娃污APP分辨率: <0.1nm

  • 寬單次成譜範圍:  >=200nm

  • 靜態(穩態)葫芦娃污APP采集,

  • 瞬態時間分辨葫芦娃污APP圖像及熒光壽命曲線

  • 係統集成整體控製及數據處理軟件

超快時間分辨葫芦娃污APP係統 是由葫芦娃污APP儀、超快探測器、耦合光路、係統控製及數據處理軟件組成。葫芦娃污APP儀對入射光信號進行分光,分光葫芦娃污APP耦合到超快探測器,入射光由透鏡聚焦在陰極上,激發出的光電子通過陽極加速,入射到偏轉場中的電極間,此時電壓加在偏轉電極上,光電子被電場偏轉,激射熒光屏,以光信號的形式成像在熒光屏上。轉換後的光信號還可以再通過圖像增強器進行能量放大,並在圖像增強器的熒光屏上成像。最後通過製冷相機采集熒光屏上信號。因為電子的偏轉與其承受的偏轉電場成正比,因此,通過電極的時間差就可以作為熒光屏上條紋成像的位置差被記錄下來,也就是將入射光的時間軸轉換成了熒光屏空間軸。係統控製軟件用於整個係統的參數設置、功能切換、數據采集等,圖像工作站用於采集數據處理分析


主要應用方向

  • 超快化學發光

  • 超快物理發光

  • 超快放電過程

  • 超快閃爍體發光

  • 時間分辨熒光葫芦娃污APP,熒光壽命,

  • 半導體材料時間分辨PL譜

  • 鈣鈦礦材料時間分辨PL譜

  • 瞬態吸收譜,時間分辨拉曼葫芦娃污APP測量

  • 光通訊,量子器件的響應測量

  • 自由電子激光,超短激光技術

  • 各種等離子體發光 

  • 湯姆遜散射,激光雷達

  • 。。。。。。

 

葫芦娃污APP儀建議選型參數列表

葫芦娃污APP儀型號

Omni-λ2002i

Omni-λ3004i

Omni-λ5004i

Omni-λ7504i

葫芦娃污APP儀焦距

200mm

320mm

500mm

750mm

相對孔徑

F/3.5

F/4.2

F/6.5

F/9.7

葫芦娃污APP分辨率(1200l/mm)

0.3nm

0.1nm

0.08nm

0.05nm

波長準確度

+/-0.2nm

+/-0.2nm

+/-0.15nm

+/-0.1nm

倒線色散(1200l/mm)

3.6nm/mm

2.3nm/mm

1.7nm/mm

1.1nm/mm

光柵尺寸

50*50mm

68*68mm

68*68mm

68*68mm

光柵台

雙光柵

三光柵

三光柵

三光柵

與探測器耦合

中繼光路1:1耦合,配合二維焦麵精密調節一體化底板

係統葫芦娃污APP分辨率(1200l/mm)

<=0.3nm

<=0.2nm

<=0.1nm

<0.08nm

一次攝譜範圍(150 l/mm)

>230nm

>150nm

>90nm

>60nm

葫芦娃污APP儀入口選項

光纖及光纖接口,標準熒光樣品室,鏡頭收集耦合,共聚焦顯微收集耦合等


多係統靈活組合

超快時間分辨葫芦娃污APP測試係統既可以與飛秒超快光源配合完成獨立的葫芦娃污APP測試,也可以與葫芦娃黄色网站的其他係統比如 TCSPC, RTS&FLIM顯微熒光壽命成像係統,TAM900寬場瞬態吸收成像係統,以及低溫製冷室,飛秒&皮秒激光器等配合完成更為複雜全麵的超快測試。

Zolix其他可配合超快測量係統

lRTS2& FLIM 顯微熒光壽命成像係統

  • 葫芦娃污APP掃描範圍:200-900nm(可拓展)

  • 最小時間分辨率:16ps

  • 熒光壽命測量範圍:500ps-1μs@ 皮秒脈衝激光器

  • 激發源: 375nm- 670nm 皮秒脈衝激光器可選,或使用飛秒光源

  • 科研級正置顯微鏡及電動位移台

  • 空間分辨率:≤1μm@100X 物鏡@405nm 皮秒脈衝激光器

  • OmniFluo-FM 熒光壽命成像專用軟件


Omni-TAM900 寬場飛秒瞬態吸收成像係統

  • 測量模式:

  • 1:點泵浦-寬場探測:測量載流子遷移和熱導率等;

  • 2:寬場泵浦-寬場探測:測量載流子分布和物理態的空間異質性等。

  • 探測器:sCMOS相機

  • 成像空間分辨率:優於500nm

  • 載流子遷移定位精度 優於30nm

  • 時間延時範圍:0-4ns或0-8ns可選

  • 搭配倒置顯微鏡,可兼容低溫,探針台,電學調控等模塊


<20ps 的鈣鈦礦薄膜ASE 發光壽命曲線

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