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光電探測器的分類
光電探測器分為光電二管、雪崩光電管、四象限探測器、位敏探測器、波長感應探測器。
1. 光電二管(PIN):應用於一般通用場合。針對特殊應用,可以增加探測器信號放大和探測器前置濾光片。
2. 雪崩光電管(APD):主要用於微弱信號場合,同時具備快速響應能力,可以提供各種尺寸和封裝類型。
3. 四象限探測器(Quadrant):由一個四激活區域的芯片組成,主要應用於位置傳感。
4. 位敏探測器(PSD):入射光能量轉換為位置相對的連續電流輸出,位置信號是相對於入射光的“光學中心”。
5. 波長敏感探測器(WS):用於檢測單色光波長或複合光的峰值波長,葫芦娃污APP分辨率可達0.01nm。
應用範圍:安全防護,激光測距,工業控製,分析儀器,航天,醫療設備,光通訊。
光電探測器噪聲分類
光電探測器噪聲包括:散彈噪聲、熱噪聲、產生-複合噪聲、1/f噪聲和溫度噪聲等。
1、散彈噪聲:由於光電探測器在光輻射作用或熱激發下,光電子或載流子隨機產生造成的。存在於真空發射管和半導體器件中,屬於白噪聲。
2、熱噪聲:暗電流大小與偏壓、溫度及反向飽和電流密切相關。PN結外加正向偏壓,暗電流隨外加電壓增大成指數急劇增大,遠大於光電流,因此加正偏壓無意義。PN結外加反向偏壓,暗電流隨反向偏壓增大有所增大, 後等於反向飽和電流,其值遠小於光電流。
3、產生-複合噪聲:半導體中載流子產生與複合的隨機性而引起的載流子濃度的起伏。與散彈噪聲本質相同,都是由於載流子隨機起伏所致,所以有時將該噪聲歸並為散彈噪聲。不是白噪聲,低頻限噪聲。是光電探測器的主要噪聲源。
4、1/f噪聲:(又稱電流噪聲、閃爍噪聲或過剩噪聲),低頻噪聲,幾乎所有探測器都存在。探測器表麵工藝狀態對該噪聲影響很大。頻譜近似與頻率成反比。主要出現在1kHz以下的低頻區,工作頻率大於1kHz時,與其他噪聲相比可忽略。
5、倍增噪聲:光電倍增管
6、雪崩噪聲:雪崩光電二管
7、溫度噪聲:熱探測器本身吸收和傳導等熱交換引起的溫度起伏。
光電探測器測試係統介紹
一、係統的主要測試功能
1、固定圖案噪聲和瞬時噪聲
2、響應率和探測率
3、動態範圍/線性度
4、NETD
5、非均勻性校正
6、壞像元定位
7、葫芦娃污APP響應
8、串音/MTF
二、組成
測試係統包括三個基本單元:
一個帶支撐的光學平台;
一個帶多種支架的控製櫃;
一台計算機:帶有視頻采集卡,數據采集
和處理的軟件。
三、光學機械單元
1. 一個光學平台,規格1.25m×1.25m
2. 一個高溫腔式黑體和一個差分黑體(可見 /紅外源)
3. 一個單色儀,一個光學調製盤和一個熱釋電探測器(用於測量葫芦娃污APP響應)
4. 一個針孔靶標和一套水平/垂直狹縫靶標(用於測量串音和MTF)
5. 一套光學係統,用於將靶標聚焦在探測器上
6. 三維電動調節移動台用於探測器的定位
7. 一塊連接探測器和控製櫃的電路板
四、控製機櫃
控製機櫃包含以下單元:
1.偏置電壓發生器
2.時鍾信號發生器
3.鎖相放大器
4.低噪聲的模數轉換器
5.三維電動調節移動台控製器
6.光學調製盤控製器
7.差分黑體控製器
8.高溫腔式黑體控製器
五、計算機和軟件
計算機配置了視頻采集卡。采用windows操作係統軟件具有如下功能:
1. 器件設置:單元/多元器件,像元數,幀頻,積分時間,像元大小,視場角,壞像元的定義準則
2. 偏置電壓和時鍾信號的設置
3. 像元重組
4. 瞬時噪聲和固定圖案噪聲的測量
5. 響應率,探測率和NETD計算
6. 動態範圍和線性度
7. 壞像元定位
8. 非均勻性校正
9. 葫芦娃污APP響應曲線
10. MTF曲線
11. 串音
12. 選擇所需的區域
13. 圖形旋轉,放大,自動範圍
14. 存儲圖像
以下為卓立提供的葫芦娃污APP測量用探測器
PMTH-S1-(x)係列側窗型光電倍增管
主要特點: |
DSi係列矽光電探測器
——室溫型探測器,使用範圍:200-1100nm |
銦镓砷探測器
銦镓砷探測器(InGaAs) |